Difracción de Rayos X de polvo

La difracción de Rayos X de Materiales Policristalinos es una técnica de gran interés en campos tan diversos como la industria farmacéutica, agrícola, cementos o mineralogía. Algunas de las aplicaciones más interesantes de esta técnica son la identificación de las diferentes fases cristalinas presentes en una muestra, detección de polimorfos, cálculo del porcentaje de cristalinidad, cálculo del contenido en material amorfo, tamaño medio de cristalito, análisis de texturas, o análisis cuantitativo de diferentes tipos de muestras, como mineralógicas o formulaciones farmacéuticas.

En La Factoría contamos con dos difractómetros de rayos X PANalytical: un difractómetro de Investigación de Materiales (MRD) y un difractómetro multipropósito (MPD). El difractómetro de Investigación de Materiales (MRD) es un equipo adecuado para trabajos de alta resolución, especialmente para el análisis de capas delgadas, estrés, tamaño de cristalito y texturas; el Difractómetro multipropósito (MPD) es adecuado para el análisis de difracción materiales policristalinos a temperatura ambiente.

El software del que disponemos nos permite llevar a cabo la comparación de patrones de difracción, análisis de Rietveld, orientaciones de cristal, texturas, análisis del tamaño de partícula, etc.

• Difractómetro multipropósito de rayos X (PANalytical X’Pert Pro MPD) para el análisis de fases de muestras policristalinas tanto con medidas por reflexión como por transmisión. El difractómetro cuenta con goniómetro vertical Θ-2Θ (240 mm de radio). La fuente de rayos X es tubo cerámico de rayos X con ánodo de Cu. La óptica del sistema consta de rendijas de divergencia programables (PDS) en el haz incidente, sistema anti-scatter, rendijas programables (PRS) en el haz difractado, rendijas Soller en ambas ópticas, incidente y difractada, y un detector multicanal Pixcel. La principal aplicación de este sistema es el análisis de fases de muestras policristalinas, el análisis cuantitativo de fases y el análisis de fases en películas delgadas mediante incidencia rasante. También está configurado para la medida de muestras en capilares por transmisión.
• Difractómetro horizontal de rayos X con cuna de Euler (PANalytical X’Pert Pro MRD).El difractómetro cuenta con un goniómetro horizontal de alta resolución Ω-2Θ (320 mm de radio) que consta de un soporte euleriano abierto, de manera que la muestra ofrece dos ejes adicionales de rotación (-90 °
  1. geometría Bragg para el estudio de estrés y textura en sólidos policristalinos. Las aplicaciones típicas incluyen la difracción de polvo, el estrés y el análisis de texturas de sólidos policristalinos).
  2. Geometría de ángulo rasante para el análisis de fases de películas delgadas policristalinas y reflexión de rayos X para espesor de capas. Las aplicaciones incluyen el análisis de fases de muestras policristalinas en películas delgadas y reflectividad.

Servicios tecnológicos

Los servicios han sido diseñados de forma que es posible escoger desde la simple recogida de datos hasta el análisis cualitativo y cuantitativo completo, dependiendo de las necesidades específicas. Además, todos los servicios incluyen la preparación estándar de las muestras.

• Medida difractograma: Se realiza la recogida datos a Tª ambiente.
• Medida de Ángulo Rasante: Se realiza la recogida datos a Tª ambiente.
• Análisis Cualitativo: Este es un servicio completo que incluye tanto la recogida de datos como la identificación de fases.
• Análisis Cuantitativo: Este es un servicio completo que incluye la preparación de la muestra, recogida de datos y el análisis cuantitativo.
• Análisis Size-Strain: Determinar el tamaño medio de cristalito.
• Análisis Texturas: Se realiza la recogida datos únicamente.
• Análisis Tensiones Residuales: Se realiza la recogida datos únicamente.